Обзор JTAG-спецификации или спецификации стандартов IEEE 1149, которые определяют тестовую технологию граничного сканирования JTAG.

Отечественная радиоэлектронная промышленность долгое время не имела достаточного доступа к современной технологической базе, поэтому ряд вопросов связанных с технологией производства электронных устройств оказался недостаточно освещен в публикациях.

В частности, "за кадром" разработчиков и изготовителей остаются современные системы тестирования электроники (микросхем, печатных плат в сборе, радиоэлектронных устройств и т.п.).  Настоящая статья дает представление о применении LSI тест-систем в испытаниях электроники и описывают промышленную реализацию одного из таких LSI-тестеров компанией Advantest.